Opening your find
Back to search
Opening your find
Mikroskopia transmisyjna skaningowa niskonapięciowa (STEM) to bardzo interesująca, choc malo znana metoda, która ma ogromny potencjal w badaniu materialów wrażliwych. Niniejsza książka skupia się na utracie masy materialu spowodowanej dzialaniem wiązki elektronów w tym mikroskopie.
Analizowanymi materialami byly czyste środki do osadzania próbek (Epon, Spurr, LR White) oraz próbka biologiczna - Euglena gracilis osadzona w tych środkach.
Próbki o różnej grubości badano przy użyciu różnych ustawień mikroskopu (napięcie przyspieszające, dawka calkowita, prąd sondy, czyszczenie plazmowe) oraz trybów obrazowania STEM (jasne pole, ciemne pole). Zebrane obrazy, opracowane algorytmy i uzyskane wyniki zostaly szczególowo omówione i poparte wykresami oraz tabelami.
Przedstawiono propozycję idealnego eksperymentu opartego na zmierzonych danych. W książce zawarto opis zasad fizycznych dzialania mikroskopów TEM, SEM i STEM oraz ich przydatności do obserwacji próbek wrażliwych na dzialanie elektronów. Omówiono również interakcję między wiązką elektronów a próbką, a także przygotowanie próbek do badania metodą STEM.
Zamieszczono również krótki opis podstawowego przetwarzania obrazów mikroskopowych wraz z rozdzialem poświęconym ilościowemu porównaniu obrazów STEM.
No reviews available here yet.
Tell us what you’d change, or start with a new idea.
