Perda De Massa Induzida Pelo Feixe De eletr�es Em Materiais sens�veis

A microscopia eletrónica de transmissão de varrimento (STEM) de baixa tensão é um método muito interessante, mas pouco conhecido, com grande potencial para a análise de materiais sensíveis. Este livro centra-se na perda de massa do material causada pelo feixe de eletrões neste microscópio.

Os materiais analisados foram meios de inclusão puros (Epon, Spurr, LR White) e uma amostra biológica - Euglena gracilis - incluída nesses meios.

As amostras de diferentes espessuras foram examinadas utilizando diferentes configurações do microscópio (tensão de aceleração, dose total, corrente da sonda, limpeza por plasma) e os modos de imagem do STEM (campo claro, campo escuro).

As imagens recolhidas, os algoritmos criados e os resultados obtidos são amplamente discutidos e apoiados por gráficos e tabelas. É apresentada uma sugestão de um experimento ideal de acordo com os dados medidos.

O livro apresenta uma descrição dos princípios físicos do TEM, do SEM e do STEM, bem como a sua adequação à observação de amostras sensíveis aos eletrões. É também discutida a interação entre o feixe de eletrões e a amostra, bem como a preparação da amostra para o STEM.

Está igualmente incluída uma breve descrição do processamento básico de imagens microscópicas, com uma secção sobre uma comparação quantitativa das imagens STEM.